Первое в советской и зарубежной учебной и монографической литературе, систематическое изложение теории дифракции в объеме, необходимом для исследования электронного строения монокристаллов. В пособии изложены основы кинематической теорий дифракции рентгеновских лучей в применении к исследованию электронной плотности в монокристаллах, рассмотрено влияние на интенсивность дифрагированного кристаллом луча ангармонических тепловых колебаний, теплового диффузного рассеяния, анизотропии электронной плотности атомов, изотропной и анизотропной экстинк-ции, поглощения рентгеновских лучей в исследуемом кристалле.

В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами.

Учебное пособие посвящено сжатому изложению на современном уровне широкого круга вопросов теории, методов, аппаратуры и ряда применений структурного анализа (СА) к исследованию атомной и магнитной структуры твердых тел. Одновременно с дифракционными методами С А впервые дается изложение теории и практики резонансного С А, основанного на эффекте Мёссбауэра. Последний существенно расширяет возможности исследования атомной и магнитной структуры, внутрикристаллических полей, сверхтонких взаимодействий электронной и ядерной подсистем твердых тел.

Задачу о дифракции гармонического электромагнитного . поля на локальном теле, расположенном в горизонтально-слоистой среде, можно свести к решению системы интегральных уравнений по поверхности тела. Вид системы, помимо формы неоднородности и свойств вмещающей среды, в значительной степени зависит от того, каким уравнениям и граничным условиям подчиняется оператор Грина. В настоящей работе он строится при посредстве вспомогательных источников, располагаемых на границе неоднородности, что позволяет использовать в качестве компонент оператора известные выражения для полей этих источников в многослойных средах.

Общая характеристика работы. Диссертационная работа посвящена теоретическим исследованиям и численной реализации класса задач стационарной дифракции упругих волн растяжения-сжатия (РР) и сдвиговых (SV,SH) с анализом динамического напряженно-деформированного состояния (НДС) в зависимости от геометрических и физико-механических параметров среды, падающих волн и полостей.

орошо известный специалистам справочник. Позволяет в рамках рентгенометрического исследования минерального вещества идентифицировать его структуру по "ключу" - пяти наиболее интенсивным линиям в дебаеграмме.

В справочнике собраны данные по примерно 900 минералам. Состоит из двух принципиальных разделов: таблицы ключа и подробные карточки отдельных минералов, сгруппированные по классам (по принципу химизма и структуры).

Также дано достаточно подробное описание теории и историии развития рентгенометрических методов исследования минерального вещества.

Для студентов и специалистов

В книге обобщены новейшие достижения электронной микроскопии, в частности, приведены сведения о ее применении в минералогии. Авторы книги — наиболее авторитетные специалисты по отдельным вопросам теории, эксперимента и применения электронной микроскопии в различных областях исследований. Рассматриваются трансмиссионная электронная микроскопия высокого разрешения, высоковольтная и сканирующая электронная микроскопия, дифракция электронов, микрорентгеноспектральный анализ, теория контраста и высокого разрешения изображений, методики универсального препарирования и т. д.

Книга чрезвычайно полезна для работников лаоорато-рий электронной микроскопии вне зависимости от их профиля, минералогов, петрографов, металлургов, материаловедов, а также преподавателей, аспирантов и студентов соответствующих  вузов.

Предлагаемая вниманию читателей книга примечательна во многих отношениях. Она отличается новизной и оригинальным содержанием, необычным составом авторов, что оказало определенное влияние на ее построение и характер изложения. В книге нашел отражение тот качественный скачок в развитии электронной микроскопии (ЭМ) вообще и в ее применениях в минералогии в частности, который произошел в начале семидесятых годов. Здесь собран свежий научный и фактический материал, которого пока еще нет в других книгах по электронной микроскопии,— его можно найти лишь в отдельных публикациях, рассеянных по многочисленным периодическим изданиям и сборникам последних лет.