Приведено изложение курса лекций по кристаллографии, прочитанного известным английским ученым Э. Уиттекером в Оксфордском университете. Освещены новейшие достижения кристаллографии и методы изучении кристаллов. Особое внимание уделено рентгеновским методам анализа. Для студентов-геологов, физиков, химиков и всех лиц, которые хотят познакомиться с основами кристаллографии

Монография посвящена разработке научных основ метода выращивания кристаллов из растворов-расплавов. Рассмотрены теоретические представления о растворимости и кристаллизации, приведены количественные физикохимические характеристики многокомпонентных систем, используемых для выращивания кристаллов. Выращивание кристаллов связывается с термодинамическим состоянием раствора и с изменением кинетики кристаллизации. Основные технологические параметры спонтанной и управляемой кристаллизации связываются с морфологией и механизмом роста кристаллов.

Книга рассчитана на научных работников и инженеров, занимающихся выращиванием кристаллов на растворов-расплавов

В пособии рассматриваются способы контроля параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа. Приводятся основные параметры, характеристики,  методика контроля. Методическое пособие предназначено для изучения курса «Кристаллография» студентами специальностей 210100 и 210600, а также может быть полезно студентам других специальностей.

В книге специалиста из ПНР подробно рассматриваются такие вопросы, как химия, теория роста и растворения кристаллов, кристаллография, дефекты и их анализ, теория растворов и др. В частности, проанализированы механизмы зарождения с учетом поверхностной и объемной диффузии, электронного фактора, образование фигур травления и морфология бугорков и ямок. Приведены рекомендации по полирующему и селективному травлению различных материалов.

Для специалистов в области физики твердого тела, физической химии, кристаллографии, металлургии, материаловедения, электроники и в смежных областях, а также студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

Рассмотрены практические методы описания естественной огранки кристаллического многогранника и кристаллических структур. Представлено периодическое (решеточное) внутреннее строение кристаллов. Определены элементы симметрии и сингонии кристаллов, а также символы атомных рядов и атомных плоскостей. Рассмотрены методы построения стереографических проекций и кристаллографическая сетка Вульфа. Построены стереографические проекции элементов симметрии и точечных групп симметрии кристаллических многогранников. Решены комплексные задачи геометрической и структурной кристаллографии. Дан анализ взаимодействия элементов симметрии кристаллических структур и определение пространственных групп симметрии. Описаны кристаллические структуры с помощью Международных кристаллографических таблиц. Смоделированы кристаллические структуры методом координационных многогранников. Все рассмотренные методы снабжены решением задач, доведенных до численного результата

В предлагаемой книжке описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены базы взаимодействия убыстренного пучка электронов с образчиком и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, ключевые основы формирования изображения в РЭМ, основы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно рассказаны упражнения высококачественного и количественного рентгеноспектрального анализа.

Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.

Изложены особенности рентгеновского исследования ряда слоистых и каркасных силикатов: слюд, дисперсных слоистых силикатов (вермикулитов, ряда каолиновых и монтмориллонитовых минералов и др.), а также щелочных полевых шпатов и плагиоклазов. Приводятся данные по структурным особенностям этих групп минералов. Наиболее полно рассмотрена структурнокристаллохимическая характеристика минералов, которая может быть получена в результате исследования как методом порошка, так и монокристаллов.

Изложены практические приемы, которые позволяют изучать различные случаи изоморфизма, упорядоченности, политипии и смешанослойности. Приводится материал по определению фазового состава (эталонные рентгенограммы) и количественному фазовому анализу. Анализируются зависимости изменения параметров элементарной ячейки минералов от состава и упорядоченности. Рассмотрены данные о связи структурных особенностей минералов с условиями их генезиса.

Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического, Во втором издании расширены ключевые разделы современного реитгеноструктуриого анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным.

Предназначается для студентов химических специальностей университетов

Изложены методы выращивания кристаллов из растворов при атмосферном давлении и умеренной температуре (до 100° С), наиболее доступные и часто применяющиеся в лабораторных условиях. Описаны техническое оснащение кристаллизационной лаборатории, приемы работ, меры борьбы с неоднородно-стями, возникающими в кристаллах при их росте, подбор оптимальных условий для выращивания и т. д. Второе издание (1-е изд.— 1967) значительно перера-ботано и дополнено новыми материалами как по теории роста кристаллов, так и по методам их выращивания.

Для кристаллографов, минералогов, физиков и химиков, связанных с вы-ращиванием и изучением кристаллов. Для всех тех, кто занимается или начи¬нает заниматься выращиванием кристаллов с целью изучения самих кристаллов или процессов их образования.

В работе сформулированы общие методические принципы слежения за ростом и растворением кристаллов, рекомендованы методы измерения динамических величин, характеризующих процесс кристаллизации. Рассматриваются оптические, акустические, механические, электрические, тепловые и химические методы слежения, показаны возможные перспективы применения различных методов в научных исследованиях и в управлении синтезом монокристаллов