В монографии излагаются теоретические основы дифракции электронов и электронной микроскопии высокого разрешения (ЭМВР), обсуждаются возможности и ограничения этих методов при использовании современных электронных микроскопов. Во второй части работы обобщен опыт структурных исследований минералов методами микро дифракции электронов и ЭМВР. Книга предназначена для специалистов в области электронной микроскопии минералов, а также для широкого круга кристаллохимиков и минералогов, интересующихся структурными исследованиями минералов

Основная особенность кристаллического вещества - это правильность, закономерность и симметрия его внутреннего строения. Частицы,из которых сложены кристаллы - атомы, ионы, молекулы - расположены в пространстве закономерно и симметрично, в виде правильно построенных рядов, сеток, решеток. Следствием закономерности и симметрии внутреннего строения является симметрии физических свойств и симметрия внешней формы кристаллов <...>

Минералогическая кристаллография — наука, изучающая кристалломорфологию, внутреннее строение и особенности формирования минеральных индивидов и их срастаний. «Очерки» прослеживают историю развития этой науки, рассказывают о ее теоретическом и практическом значении о наиболее перспективных направлениях.
Книга рассчитана на широкие круги минералогов, кристаллографов, петрографов, геохимиков, геологов, а также на студентов, аспирантов и преподавателей соответствующих специальностей

В монографии рассматриваются вопросы кристаллографии и минералогии, даются основные понятия о строении и свойствах твердых кристаллических веществ, основы геометрической и структурной кристаллографии, кристаллохимии. Рассмотрены кристаллы в металлических сплавах. Приведены цветные фотографии кристаллических веществ, наиболее часто встречающихся в быту и в процессе лабораторных работ.
Издание предназначено для студентов и магистрантов, изучающих кристаллографию, а также инженерно-технических специалистов, совершенствующихся в данной области

Описан метод расчета дифракционных кривых от смешанослойных структур с произвольным фактором ближнего порядка, любым числом и содержанием переслаивающихся компонентов с учетом их рассеивающей способности. Рассчитанные дифракционные кривые можно непосредственно сравнивать с экспериментальными дифрактограммами.
Проведен систематический анализ дифракционных эффектов от смешанослойных структур слюда—монтмориллонит, хлорит—монтмориллонит, каолинит-монтмориллонит; установлены дифракционные критерии, по которым можно надежно идентифицировать соотношение и характер чередования слоев разных типов в анализируемых минералах. Приводятся многочисленные примеры эффективности разработанного метода при диагностике природы смешанослойных структур различных типов.

В справочнике приведены основные физико-химические свойства 854 неорганических фторидов—структурные и рентгенометрические характеристики кристаллов, температуры, и термодинамические параметры фазовых переходов, термодинамические функции веществ в стандартном состоянии, давление пара и давление разложения, молекулярные постоянные, а также термодинамические функции при температурах до 5000°К.
Издание рассчитано на специалистов научных учреждений и предприятий атомно-энергетической и химической промышленности, а также цветной металлургии. Оно может быть полезно аспирантам и студентам

Электронномикроскопическое изучение поверхности скола (методом фрактографии) основных типов кремнистых пород выявило характерные микроструктуры тонкого кремнистого вещества (криптокристаллического), не различимые с помощью световой оптики. Они объединены в три группы: 1) кристалломорфные; 2) колломорфные и 3) сложные микроструктуры, отражающие переход вещества от колломорфного к кристалломорфному.

Книга представляет собой наиболее полную в настоящее время сводку по методике и технике выращивания кристаллов. В ней рассмотрены вопросы роста кристаллов из растворов, расплавов, из твердой и газовой фаз, а также специальные методы выращивания (при экстремальных условиях, выращивание скелетов, нитевидных кристаллов — усов, высокополимеров). Для каждого метода приведены теоретические основы, описание применяемой аппаратуры И получаемых веществ. Показаны варианты методов, обусловленные свойствами отдельных материалов. Особое внимание уделено реальной структуре выращенных кристаллов — дефектам.

Книга содержит детальное изложение практической части  элементов геометрической кристаллографии:
1)  методику определения симметрии;
2) вычисление констант кристалла и индексов графическим методом при помощи сетки   Вульфа;
3)  технику измерения кристаллов на однокружном и теодолитном гониометрах.
Более кратко дано изложение методики нахождения симметрии из рентгенограмм типа Лауэ и способ черчения ортогональных проекций.
Для главных отделов приведены краткие теоретические дополнения, Для самостоятельных упражнений даны задачи на вычисление и на определение симметрии.
Книга предназначена для студентов втузов геолого-разведочного типа, где проходится полный курс кристаллографии, а также для инженерно-технического персонала, желающего повысить свою квалификацию в этой области.