В сборнике представлены материалы I Российского рабочего совещания "Глины, глинистые минералы и слоистые материалы". Доклады посвящены актуальным вопросам изучения глинистых минералов и слоистых материалов, их структуры, строения и свойств, методам исследования, особенностям геологии, минералогии и геохимии, а также применению глинистых и слоистых материалов в современных отраслях промышленности, нанотехнологиях и нефтегазовой отрасли. 2-е издание включает материалы авторов докладов секции С4, которые не вошли в первое издание.
Совещание посвящено 90-летию со дня рождения крупного российского исследователя в области кристаллохимии глинистых минералов и слоистых материалов Бориса Борисовича Звягина (14.04.1921–18.09.2002), профессора, доктора физико-математических наук, крупного специалиста в области электронно-дифракционного анализа и структурной кристаллографии, лауреата Премии Президиума АН СССР по кристаллографии им. Е.С. Федорова (1986) и высшей награды Общества исследователей глин (Clay Mineral Society) США (2000). С его именем связано становление и развитие электронографического метода для исследования слоистых минералов.

Совещание носит междисциплинарный характер и призвано объединить специалистов из различных областей фундаментальной и прикладной наук, работающих с глинистыми минералами и слоистыми материалами. Материалы совещания ориентированы на геологов, химиков, технологов, специализирующихся на изучении слоистых веществ, а также на студентов ВУЗов соответствующих специальностей.

Описан метод расчета дифракционных кривых от смешанослойных структур с произвольным фактором ближнего порядка, любым числом и содержанием переслаивающихся компонентов с учетом их рассеивающей способности. Рассчитанные дифракционные кривые можно непосредственно сравнивать с экспериментальными дифрактограммами.
Проведен систематический анализ дифракционных эффектов от смешанослойных структур слюда—монтмориллонит, хлорит—монтмориллонит, каолинит-монтмориллонит; установлены дифракционные критерии, по которым можно надежно идентифицировать соотношение и характер чередования слоев разных типов в анализируемых минералах. Приводятся многочисленные примеры эффективности разработанного метода при диагностике природы смешанослойных структур различных типов.

В книге обобщен опыт применения высоковольтной электронографии к исследованию кристаллических структур слоистых минералов. Излагаются общая методика расшифровки электронограмм монокристаллов и текстур, применимая и для триклинных структур; теория политипии, способы вывода, описания и дифракционной идентификации политипов; результаты полного определения кристаллических структур диоктаэдрических слоистых силикатов разного состава и строения; закономерные связи между особенностями кристаллических структур минералов и условиями их образования.

Книга предназначается для специалистов в областях электронографии и электронной микроскопии, кристаллографов и кристаллохимиков, минералогов и геологов, пользующихся результатами структурных исследований