Рентгенографический и электроннооптический анализ

Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояснения и изложен порядок выполнения задач. В приложении дан необходимый справочный материал. 

Книга предназначена для студентов металлургических, политехнических и машиностроительных вузов по специальностям: металловедение, физика металлов, полупроводники и диэлектрики, физико-химические исследования, обработка металлов давлением, литейное производство и металлургия черных и цветных металлов, технология специальных материалов электронной техники. Она может быть также использована сотрудниками научно-исследовательских институтов и заводских лабораторий, работающими в области рентгеноструктурного, электронографического и электронномикроскопического анализа материалов.

В учебном пособии рассмотрены методики решения материаловедческих задач средствами рентгеновской и электронной оптики. Пособие предназначено для студентов по специальностям: обработка металлов давлением, металлургия черных и цветных металлов, литейное производство, металловедение и технология термической обработки металлов, физика металлов, полупроводники и диэлектрики, технология специальных материалов электронной техники, полупроводниковые приборы, физико-химические исследования.

При составлении руководства предусматривалось, что в соответствии с учебными программами обучающиеся должны познакомиться с основами рентгенотехники, общей расшифровкой рентгенограмм поликристаллов (определение межплоскостных расстояний, индицирование линий рентгенограммы, нахождение размеров элементарной ячейки с учетом точности их определения и др.), методами решения задач структурного анализа монокристаллов и пленок, чаще всего встречающихся в материаловедческой практике, и прикладным рентгеноструктурным анализом. В нескольких работах рассмотрены методы рентгеноспектрального и микрорентгеноспектрального анализов, а также методы электронографии, электронной микроскопии и микродифракции. Кроме того, в руководстве изложены элементы структурной кристаллографии, методы построения и анализ проекций кристаллов. В приложении собран справочный материал для структурных расчетов, а также приведены типовые рентгенограммы и электронограммы, которые могут быть использованы для измерений и расчетов в некоторых работах.

Руководство составлено так, что оно предполагает знакомство с теоретическим курсом рентгенографии примерно в объеме учебника Я. С. Уманского «Рентгенография металлов и полупроводников» (изд-во «Металлургия», 1969). Дополнительная литература указана в конце задачи (или в конце раздела). Студентам различных специальностей рекомендуется включать в практикум работы в соответствии с конкретными учебными программами.

Авторы выражают глубокую благодарность проф. Я. С. Уманскому за ценные рекомендации, высказанные при обсуждении пособия. Авторы благодарят за участие в составлении отдельных работ В. Т. Бублика, А. С. Бая, Я. Д. Вишнякова, Н. В. Еднерал, А. Н. Иванова, Э. Н. Спектор. Большую помощь в подготовке пособия к переизданию и написании ряда работ оказала доц. А. Н. Дубровина, которой авторы приносят свою глубокую благодарность. Авторы выражают также свою признательность проф. В. И. Ивероновой и сотрудникам кафедры физики Московского государственного университета, рецензировавшим рукопись,за ряд важных замечаний, способствовавших существенному улучшению пособия.