Методы морфометрии кристаллов

Книга посвящена изложению методов измерения формы кристаллов. Форма кристалла может считаться известной, если способ се задания позволяет указать пространственные, координаты любой точки на поверхности кристалла. В традиционных способах описания формы точно указываются только неправде пня внешних нормалей к граням (и виде набора {hkl}, отнесенного к соответствующей ячейке кристалла), что явно недостаточно математически и с точки зрения современных задач кристалломорфологии. <...>
Для регистрации поверхности кристалла наиболее удобен фотогониометрический метод. Определение огранения и кристаллографических констант Осуществляется на фотогномонических проекциях. Для решения всех задач в гномонической проекции разработаны расчетные методы. Они устраняют иловые ограничения, свойственные графическому представлению этой проекции.
Габитус кристалла, выражаемый отношением площадей его граней, может измеряться путем фотометрирования рефлексов от граней па фотограммах или на гониометре известными фотоэлектрическими методами. Перспективным представляется автоматическое фотометрирование рефлексов с частичным использованием аппаратуры для рентгеноструктурных исследований или на микроденситометрах.
Микроскопические неровности на поверхности кристалла вызывают дифракционное рассеяние отраженного света. Исследование дифрагированного излучения позволяет в ряде случаев определять не только геометрию неровностей, но и их размеры.
Для кристаллографов, минералогов, кристаллофизикой, занимающихся изучением, выращиванием и использованием кристаллов